掃描電鏡測試
查看詳情利用掃描電鏡對樣品進行多角度、多信號模式的形貌表征,進行能譜測試。
各行業的大趨勢都是不斷精細化、專業化,即“專業人做專業事”。只有精細分工,才能獲得一流產品和服務。 中國的材料工藝研發和材料學研究正處于高速增長期,數量和質量都在迅速提升。其中,微觀結構和微觀效應成為科研工作者日益關注的方向,陸續誕生出一系列科研成果:單原子催化、納米顆粒、納米晶、納米孿晶、納米尺度效應等等。 而作為材料研發和研究領域的重要工具—顯微鏡,經歷了從光學到電子的重大轉變,尤其是透射電子顯微鏡(TEM),更是材料結構表征不可或缺的利器,不但能進行基本形貌和結構表征,更能實現晶體學分析、成分分析等多種分析手段,精度可達原子級,從而得到關于材料結構和成分的全方位信息。品體學和電子顯微學等相關學科的地位也越來越重。
拍攝TEM圖片 15萬+
測試項目 2000+
服務合作伙伴 900+
操作設備 10000+小時